三箱高低温冲击箱，冷热冲击试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。
三高低温箱，冷热冲击试验箱技术指标：
机型 | JS-GDCJ-100/150/200/500B |
测试环境条件 | 环境温度为+25℃、试验箱内无试样条件下 |
测试方法 | GB/T 5170.2-1996 温度试验设备 |
高温室 | |
预温度范围 | RT～+200℃ |
升温时间 | RT+10℃→+200℃ ≤40min 注：升温时间为高温室单独运转时的性能 |
低温室 | |
预冷温度范围 | RT~-70℃ |
降温时间 | RT → -70℃≤60min 注：降温时间为低温室单独运转时的性能 |
试验室（试样区） | |
试验方式 | 气动风门切换 3 温区冲击试验条件（高温-常温-低温） 2 温区冲击试验条件（高温-低温） |
温度冲击范围 | -55℃～ +80℃ |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度偏差 | ±2.0℃ |
温度恢复时间 | ≤5min |
恢复条件 | 试样：塑料封装集成电路（均布）传感器位置：试样的上风侧 高温曝露： RT~+150℃：≥30分钟 环境温度曝露：常温 低温曝露： RT~-55℃：≥30分钟 试样重量：4.5kg（如需要放置重的试样，请提前告知） |
制冷方式 | 水冷 |
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
三箱高低温冲击箱，冷热冲击试验箱用途：
三箱高低温冲击试验箱试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。
