20L高低温试验箱，芯片高 低温老化箱技术参数：

1、范围： -75、-40℃--150℃；

2、波动度：≤±0.5℃；

3、均匀度：≤±2℃ ；

4、内箱尺寸（mm）：300×300×225 （W×H×D)；

5、外箱尺寸（mm）：460×910×785 （W×H×D)；

6、电源： 220V 50Hz 2.5KW。

20L高低温试验箱，芯片高 低温老化箱结构特点:

 1、箱体采用CNC数位工作母机成型，造型美观大方；

 2、箱体内部采用SUS304镜面不锈钢板，外部采用SECC钢板喷塑处理，以 

    增加外观质感及洁净度；

 3、大型观察窗，配有照明灯，保持箱内明亮，利用发热体内嵌式玻璃，随时保持清晰的观测箱内的状况；

 4、机器底部采用高质量可固定式活动轮，以便固定及移动之用。

20L高低温试验箱适用范围：

      小型高低温试验箱外形小巧，节约空间，操作简单，经济实惠；小型高低温试验箱适用于IC,PCB板、晶圆，可控硅，半导体，电阻、电容、电工、电子产品、其他零部件在高温、低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，考核其各项性能指标。

《GB/T 2421/2/3/4-2008 电工电子产品环境试验》

《GJB 150A-2009 军  装备实验室环境试验方法》

《GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法》

《JJF 1101-2003 环境试验设备温度、湿度校准规范》

《GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备》