高温高湿试验箱，芯片老化箱概述

适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；

高温高湿试验箱，芯片老化箱用途

适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验； 是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备； 特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、耐潮湿循环试验。。

技术参数.

一.性能指标

1）温度范围：RT--150℃

2）湿度范围：60~98% R?H

3）波动/均匀度 ≤±0.5℃ /±2℃

4）温度偏差：+2%、-3%R?H

5）精度范围    温度±0.1℃、湿度±0.1%R?H

二.箱体结构

1)控制器：进口微电脑温湿度集成控制器

2)温湿度传感器：铂金电阻?PT100Ω

3)加湿系统：外置隔离式，全不锈钢锅炉式浅表面蒸发式加湿器

4) 除湿系统：采用蒸发器盘管露点温度层流接触式加湿器

5) 加热系统：*独立系统，镍铬合金电加热式加热器